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LiteScope™是为不同品牌的扫描电子显微镜(SEM)设计的“即插即用”的扫描探针显微镜。根据客户需求,定制并提供适当的适配器和反馈机制,很容易通过四个螺丝将LiteScope™固定在电子显微镜的样品台上,通过线缆与控制器、电脑进行连接。LiteScope™通过可更换探针进行多种扫描探针显微镜(SPM)成像模式。综合分析包括:表面形貌表征、机械性能、电性能、磁性能。
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Nano Indenter® G200系统是一种准确,灵活,使用方便的纳米级机械测试仪器。 G200 测量杨氏模量和硬度,包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。 该系统还可以测量聚合物,凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应(应变率灵敏度)。 模块化选项可适用于各种应用:频率特定测试,定量刮擦和磨损测试,集成的基于探头的成像,高温纳米压痕测试,扩展负载容量高达10N 和自定义测试。
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原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)经过30多年的发展后,从形貌测试及其它常规功能来看已经非常成熟。然而常规的原子力显微镜也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行多性质原位测试分析的需求,尤其在化学、光学、电学、热学、力学等领域。
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透射电镜多尺度、多视角(明、暗场像,电子衍射, 化学成分)的实验分析能力,基于透射电子显微镜的原位微纳米力学实验仪器,将为研究材料内部缺陷形成、演化行为提供实验平台。将三维纳米操纵与360度旋转耦合的三维重构样品台,是实现原子级三维重构提供设备支撑。将三维重构与原位光学、力学和电学等原位加载功能结合,实现对于三维结构演化的动态解析,无疑将对深化人类对于物质结构的认识提供支撑。
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Swift Tensile Stage原位拉伸台是一款专为现代材料研究设计的多功能设备,适用于扫描电镜、透射电镜、光学显微镜、共聚焦显微镜等多种显微观测系统。它支持EBSD、样品加热和冷却,能够实现“拉伸—剪切”、“压缩—剪切”、“单轴拉伸/压缩”、“纯剪切”及疲劳力学测试等多种模式,适用于薄膜及细丝力学实验。该设备结构紧凑,兼容真空和电磁环境,采用超低速准静态加载方式,便于在成像仪器下进行连续可视化原位监测,揭示载荷作用、材料变形损伤机制与微观结构变化间的规律。
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Norcada提供了广泛的MEMS电偏压和电化学芯片。Norcada还可以提供客户定制的软件包,包括用于基于 STXM的应用程序的支架和MEMS芯片。主要提供两种基于MEMS技术的原位系统,使用同一个SEM样品台既可以实现不同的原位解决方案电学、加热等不同应用。
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阴极荧光成像光谱探测系统(Cathodoluminescence, CL)是一种高精度的分析工具,通常配置在扫描电镜或透射电镜中,能够实现形貌观察、结构和成分分析与阴极荧光光谱的结合研究,并支持全光谱荧光扫描成像。该系统利用高能量、小束斑的电子束激发样品,具有高空间分辨率、高激发能量、宽光谱范围和大激发深度等优点,特别适用于半导体材料与器件、荧光材料(如地质、考古材料)等的微观分析。在微米、纳米尺度的半导体量子点、量子线等荧光物质的研究中,阴极荧光技术能够揭示发光性质及电子结构,具有重要的应用价值。
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Explorer是多功能的高真空研发和中试生产平台,其配置可为电子束(e-beam) 蒸发、电阻蒸发或磁控溅射。所有三种配置中均可选配离子辅助沉积功能。Explorer可在半手动模式下使用,也可升级到全自动模式,一键自动化操作,可以减少系统停机时间。
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ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜,具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点,而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好,而且价格实惠,性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜,广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括:ezAFM、ezAFM+、ezAFMAQUA、以及ezAFM-Vacuum,ezSTM除了基本的形貌等扫描,可以用于电学、磁学等拓展模式,以及液相、真空环境等。
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通过将产品固定在抛光头的较下面,抛光时,旋转的抛光头以一定的压力压在旋转的抛光垫上,抛光液在抛光垫的传输和离心力的作用下,均匀分布其上,在硅片和抛光垫之间形成一层抛光液液体薄膜。抛光液中的化学成分与产品表面材料产生化学反应,将不溶的物质转化为易溶物质,或者将硬度高的物质进行软化,然后通过磨粒的微机械摩擦作用将这些化学反应物从产品表面去除,溶入流动的液体中带走,即在化学去膜和机械去膜的交替过程中实现平坦化的目的,通过先进的工艺可实现纳米级别的粗糙度效果。
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上海阜力测量设备有限公司的阜力触摸屏便携式分体粗糙度仪FL300R是一款专为表面粗糙度检测设计的便携式设备,采用分体结构与触摸屏操作,适用于工业现场、实验室等场景,可快速、精准测量工件表面的微观几何形貌参数(如Ra、Rz等),为质量控制与工艺优化提供数据支持。
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