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Duranmin-40涵盖了Struers微观/宏观硬度测试仪的基本载荷范围。此测试仪配有手动和电动XY载物台和一个全景相机。Duramin-40有三个载荷范围，10gf–10kgf、10gf–31.25kgf和1gf–62.5kgf。测试仪包含带有立显示器的集成计算机，可以使用触摸屏或鼠标进行操作。还可以选择使用双显示器。测试循环是完全自动的，标配电动6位转台。附加模块包括Kc断裂测量，映射和焊接测量。
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美国Molecular Vista推出的全新一代散射式扫描近场光学显微镜（Vista-SNOM）基于光诱导力显微镜（PiFM）技术，通过检测探针与样品之间的偶极相互作用直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器，避免了远场信号干扰。该技术无缝适应紫外到射频范围，简化了传统SNOM的复杂配置。Vista-SNOM不仅在PiFM模式下提供与模拟结果高度吻合的场强测量，还具备s-SNOM模式，使科研人员能够对比分析两种模式下的场强结果，是研究纳米光子学、表面等离激元、二维材料及范德华异质结构等领域的有力工具。
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KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚准确测量，被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品，可测量从几mm到450mm大小的样品，薄膜厚度测量范围1nm到mm级。FilmetricsF50系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，配备R-θ较为坐标标准和订制化样品盘，样品直径可达450毫米。
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宇舟无极调速金相试样单盘磨抛机YMP-1是上海阜力测量设备有限公司代理的金相试样制备设备，采用单盘设计配合无极调速技术，通过手动或自动控制实现试样磨削与抛光的灵活操作，适用于金属、陶瓷等材料的金相试样制备，为材料检测、质量控制及科研分析提供高效、均匀的试样处理解决方案。
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Zeta-20台式光学轮廓仪是非接触式3D表面形貌测量系统。该系统采用ZDot™技术和Multi-Mode(多模式)光学系统，可以对各种不同的样品进行测量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的纹理，以及纳米至毫米级别的台阶高度。
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KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量，被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品，可测量从几mm到450mm大小的样品，薄膜厚度测量范围1nm到mm级。F40用于测量光斑<1µm的薄膜膜厚。
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威而信高精度自动调心圆度仪CA35CNC是上海阜力测量设备有限公司代理的高端圆度测量设备，集成自动调心技术与CNC控制系统，可精准测量圆柱、圆锥等回转体零件的圆度误差，适用于轴承、汽车零部件、精密机械等行业，为质量控制与工艺优化提供高效、自动化的测量解决方案。
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KLA先进的探针式台阶仪Alpha-StepD-600，可测量纳米级至1200um台阶高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力。且其具有5.0A(1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率。
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KLA公司全系列的力学测试产品均采用电磁驱动原理的加载力激发器，iNano台式纳米压痕仪。对纳米压痕物理模型和优线性特性的电磁力驱动原理的深刻理解，以及良好的灵敏度的三片式电容传感器的设计，保证全系列纳米力学产品在整个量程范围内均能得到高精准、高分辨的控制。50mN载荷范围，3nN加载精度，0.002nm位移精度。
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Park XE-15大样品台工业原子力显微镜是专为共享实验室、多变量实验和晶片失效分析设计的高性能设备。它具备100μm×100μm的XY柔韧导向扫描范围和12μm（可选25μm）的挠性导向强力Z扫描，配备滑动连接的超亮二级管头和多样品夹头。此外，选配的编码器XY自动样品载台和垂直对齐的电动Z载台及聚焦载台，进一步提升了操作的便捷性和成像效率。6寸样品台的设计使其能够容纳较大尺寸的样品，实现多样品一次性自动成像，提高数据精确性和稳定性，满足多样化的研究需求。
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LiteScope™是为不同品牌的扫描电子显微镜（SEM）设计的“即插即用”的扫描探针显微镜。根据客户需求，定制并提供适当的适配器和反馈机制，很容易通过四个螺丝将LiteScope™固定在电子显微镜的样品台上，通过线缆与控制器、电脑进行连接。LiteScope™通过可更换探针进行多种扫描探针显微镜（SPM）成像模式。综合分析包括：表面形貌表征、机械性能、电性能、磁性能。
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Nano Indenter® G200系统是一种准确，灵活，使用方便的纳米级机械测试仪器。 G200 测量杨氏模量和硬度，包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。 该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应（应变率灵敏度）。 模块化选项可适用于各种应用：频率特定测试，定量刮擦和磨损测试，集成的基于探头的成像，高温纳米压痕测试，扩展负载容量高达10N 和自定义测试。
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原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)经过30多年的发展后，从形貌测试及其它常规功能来看已经非常成熟。然而常规的原子力显微镜也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行多性质原位测试分析的需求，尤其在化学、光学、电学、热学、力学等领域。
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透射电镜多尺度、多视角（明、暗场像，电子衍射， 化学成分）的实验分析能力，基于透射电子显微镜的原位微纳米力学实验仪器，将为研究材料内部缺陷形成、演化行为提供实验平台。将三维纳米操纵与360度旋转耦合的三维重构样品台，是实现原子级三维重构提供设备支撑。将三维重构与原位光学、力学和电学等原位加载功能结合，实现对于三维结构演化的动态解析，无疑将对深化人类对于物质结构的认识提供支撑。
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Swift Tensile Stage原位拉伸台是一款专为现代材料研究设计的多功能设备，适用于扫描电镜、透射电镜、光学显微镜、共聚焦显微镜等多种显微观测系统。它支持EBSD、样品加热和冷却，能够实现“拉伸—剪切”、“压缩—剪切”、“单轴拉伸/压缩”、“纯剪切”及疲劳力学测试等多种模式，适用于薄膜及细丝力学实验。该设备结构紧凑，兼容真空和电磁环境，采用超低速准静态加载方式，便于在成像仪器下进行连续可视化原位监测，揭示载荷作用、材料变形损伤机制与微观结构变化间的规律。
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Norcada提供了广泛的MEMS电偏压和电化学芯片。Norcada还可以提供客户定制的软件包，包括用于基于 STXM的应用程序的支架和MEMS芯片。主要提供两种基于MEMS技术的原位系统，使用同一个SEM样品台既可以实现不同的原位解决方案电学、加热等不同应用。
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