MVI散射式扫描近场光学显微镜
美国Molecular Vista推出的全新一代散射式扫描近场光学显微镜（Vista-SNOM）基于光诱导力显微镜（PiFM）技术，通过检测探针与样品之间的偶极相互作用直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器，避免了远场信号干扰。该技术无缝适应紫外到射频范围，简化了传统SNOM的复杂配置。Vista-SNOM不仅在PiFM模式下提供与模拟结果高度吻合的场强测量，还具备s-SNOM模式，使科研人员能够对比分析两种模式下的场强结果，是研究纳米光子学、表面等离激元、二维材料及范德华异质结构等领域的有力工具。
随着近些年对于纳米光子学、表面等离较为化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究，扫描近场光学显微镜(ScanningNear-fieldOpticalMicroscope,SNOM)已成为研究这些领域的不可或缺的表征手段。虽然扫描近场光学显微镜在散射式模式(s-SNOM)下的空间分辨率有了很大的提升，但是在实际使用上仍然得十分繁杂。在这一背景下，美国MolecularVista应运而生，推出了全新一代散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM！
有别于传统的扫描近场光学显微镜，Vista-SNOM基于专用的光诱导力显微镜（Photo-inducedForceMicroscope,PiFM)技术，通过检测探针与样品之间的偶较为交互直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰，也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外～射频，用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。
Vista-SNOM在光诱导力显微镜模式下实测的场强结果与模拟结果高度吻合，同时也具备了s-SNOM模式。这使得科研人员可以将PiFM场强结果与s-SNOM场强结果进行对比分析。
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