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在55 °C储存条件下，较高SOC显著加剧容量衰退与阻抗增长，反映界面劣化过程加速；高SOC下电极结构更易退化，表现为正极钝化裂纹与负极剥落增多，界面反应副产物堆积严重。
在55 °C储存条件下，较高SOC显著加剧容量衰退与阻抗增长，反映界面劣化过程加速；高SOC下电极结构更易退化，表现为正极钝化裂纹与负极剥落增多，界面反应副产物堆积严重。 收起+
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