本实用新型提供的一种集成电路测试装置，包括集成电路测试座，集成电路测试座的顶部向内凹设有测试槽，测试槽内壁两侧相对设置有限位槽，限位槽内均滑动安装有滑块，两个滑块相互靠近的一端上均设置有卡块，两个滑块相互背离的一端上均安装有拉杆，拉杆延伸至集成电路测试座外并固定安装有把手，拉杆上套设有弹簧，弹簧的一端连接所述滑块，弹簧的另一端连接限位槽内壁。采用上述技术方案，进行测试时，当接触件出现氧化或损坏的情况时，只需向外拉动拉杆，使卡块不再抵持在测试板的上表面，便能将测试板快速取出，再将正常无损坏的测试板底部的接脚对准集成电路测试座的接触件，向下按压，便能将测试板快速固定在测试槽内，实现测试板的快速更换。
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来源：北方有色网
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