本发明提供一种GPGPU
芯片无损Extest Mode测试方法，基于GPGPU芯片的设计特点，根据顶层芯片的逻辑连接关系，把GPGPU芯片的设计分为计算逻辑模块和余下的SOC模块，从而分成两个Extest Mode分组：一组包含计算逻辑模块以及与之相连的SOC模块，另外一组包含所有的SOC模块。在此基础上，每组均控制所有的扫描链输入信号，根据GPGPU芯片提供的所有输入输出管脚数量，再次分组直到观测完所有的扫描链输出信号，对运算内存的需求大大降低，同时没有损失任何测试覆盖率。
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“GPGPU芯片无损Extest Mode测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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