本发明公开一种基于强化学习的X射线头影测量标志点自动定位方法，包括以下：获取若干训练用的正畸科X线头颅侧位片图像数据，人工标注出多个标志点的位置，并预处理后确定每一个标志点的最终位置；建立马尔科夫决策过程模型，基于深度强化学习定位算法，求解马尔科夫决策过程，得到最优策略；S3）输入一张X线头颅侧位片，得到每个标志点的估算值，在图中标出目标点和经过模型预测的标志点位置，同目标点相比较得出平均误差和方差。本发明采用深度强化学习的方法，将头影标志点定位问题表示为强化学习中的顺序决策问题；能够针对不同的标志点，分配不同的强化学习代理，同时探索各自的标志点，从而解决头影标志点定位的耗时和准确性问题。
声明：
“基于强化学习的X射线头影测量标志点自动定位方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1054
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
