本发明涉及一种利用扫描
电化学显微镜(SECM)检测不可逆电穿孔程度的方法，其通过对脉冲电场刺激后的细胞的膜通透性(Pm)进行测定，实现细胞电穿孔程度的快速高效检测。该方法先测定出SECM探针对细胞的逼近曲线，再将逼近曲线换算成细胞膜通透性来完成对电穿孔程度的测定，并通过已有的检测方法测定细胞的存活率曲线，将Pm值与细胞存活率建立关系，来验证细胞膜通透性能完成不可逆电穿孔的检测，发现细胞膜通透性随脉冲电压变化的规律与细胞存活率在脉冲电压变化时的规律几乎一致，因此利用SECM测定细胞的电穿孔程度的方法是有效可靠的。
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“利用扫描电化学显微镜（SECM）检测不可逆电穿孔程度的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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