本发明公开一种半导体制冷产品检测方法，包括：步骤一：基于各类半导体制冷产品的能效标准，标准工况下，获取满足能效及性能要求的合格产品样本的性能参数；步骤二：选取满足步骤一中所述性能参数的样机作为测试标本，获取测试标本在不同环境温度下的基准性能参数，以此为数据基础建立测试结果数据库；步骤三：通过设置于检测工位的检测装置，获取检测工位的当前环境温度；步骤四：调用测试结果数据库中，处于当前环境温度下的基准性能参数，将所调用的基准性能参数与检测工位上被测产品的测量性能参数进行比较，判断检测工位上被测产品是否合格。本发明有效解决半导体制冷产品性能受环境温度影响大、大批量性能检测结果是否合格难以判定的问题。
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来源：北方有色网
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