本实用新型公开了用于半导体性能检测的测试台，包括检测机构、支撑机构，所述检测机构包括工作台、工具盒、检测面板，所述工作台内侧安装有所述工具盒，所述工作台上端面安装有所述检测面板，所述检测面板后部设置有静电除尘网，所述检测面板一侧安装有显示屏，所述检测面板上方设置有支架，所述支架内侧安装有温度扫描仪。本实用新型结构简单，设计合理，生产成本低，可以同时检测若干个半导体，极大的提高了工作效率，同时方便调节装置的高度，实用性高。
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来源：北方有色网
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