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375 工作原理
采用X射线荧光光谱技术（XRF），通过高能X射线激发样品表面原子，使其发射特征荧光光谱。仪器内置高精度硅漂移探测器（SDD）捕获光谱信号，结合Peltier恒温冷却系统（-35℃）保障检测稳定性。内置气压补偿功能可自动适应不同海拔环境，确保数据准确性。
应用范围
适用于地质勘探、矿山开采、选矿工艺优化及金矿贸易结算。支持现场快速筛查矿石品位，辅助确定钻探区域；实验室中可分析金精矿、尾矿及冶炼中间产品的元素组成，覆盖Mg至Pu共83种自然元素，尤其擅长检测Au、Ag、Cu、Pb、Zn等伴生金属。
产品技术参数
激发源：微型直板电子X射线管（10-40kV多段可调）
探测器：SDD硅漂移探测器，分辨率≤140eV
检测下限：Au元素120秒检测下限≤5ppm（无干扰基质）
检测时间：单样品≤2秒（快速模式）/120秒（高精度模式）
数据存储：内置2GB SD卡，可存储205,000组数据
防护等级：IP54，通过华南计量测试中心辐射安全认证
产品特点
便携高效：整机重量＜1.5kg，支持电池热插拔，野外连续工作8小时；
智能分析：内置Mining Plus、Soil等多种分析模式，元素显示顺序可自定义排序；
环境适应：工作温度-20℃~50℃，湿度0-95%，抗尘防水设计；
数据互联：支持GPS绑定、无线蓝牙传输，测试结果可输出至GIS软件生成三维矿体模型。
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