本发明提供的是一种多功能铌酸
锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导
芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量；利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量，得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据，计算串扰数据的能量分布曲线，得到光纤的分布式消光比；测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样，利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音，判断左右两端测量结果的差值是否满足要求，如果差值较大需要重新测量，直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高，动态范围大的特点，对探测到的偏振串扰数据进行测量，使测量结果准确、可靠。
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“多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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