本发明提供一种
复合材料层的参数拟合计算方法及系统，方法包括：a、获取待测样品的测量光谱，待测样品包括复合材料层；b、根据复合材料层的参数，基于有效介质EMA通用模型拟合计算待测样品的拟合光谱；c、若拟合光谱达到所述测量光谱的精度要求，则获取复合材料层的参数；若拟合光谱未达到测量光谱的精度要求，则调整复合材料层的参数，重复执行b和c进行迭代，直到拟合光谱达到所述测量光谱的精度要求，获取复合材料层的参数。本发明构建有效介质EMA通用模型，可以通过调整复合材料层的参数，来迭代计算待测样品的拟合光谱，调整参数时不因为某一种或几种具体模型的限制，可适用于包含任何复合材料层的待测样品参数的获取。
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“复合材料层的参数拟合计算方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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