本发明公开了一种针对SRAM型FPGA的逐位翻转故障注入方法，通过检测电路设计配置存储单元中的单粒子翻转敏感位位置，得到动态翻转截面和失效率，绘出可靠度变化曲线，从而可以对电路设计空间应用的可靠度进行评测。方法包括，步骤一：初始配置；步骤二：翻转比特位；步骤三：判断是否产生错误；步骤四：判断是否完成测试；步骤五：获取FPGA的动态翻转截面和可靠度变化曲线。
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来源：北方有色网
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