本发明公开了一种半导体器件和包括所述半导体器件的系统，其涉及在半导体器件的探针测试期间检测有缺陷或失效部分的技术。所述半导体器件包括测试控制器，该测试控制器被配置为在测试信号的激活期间执行读取标志信号的计数，以及控制数据掩蔽信号在读取标志信号的第N激活时间被触发。所述半导体器件还包括单元阵列，该单元阵列被配置为在写入操作期间经由数据线接收和储存测试控制器的输出信号，以及在读取操作期间将所储存的数据输出到测试设备。
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来源：北方有色网
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