本发明公开了一种模拟太阳风轰击宇航级
芯片的等离子体辐照平台，该平台为用来模拟太阳风高速等离子体粒子流轰击宇航级电子学芯片致使其致盲的辐照平台，具体涉及脉冲等离子体源以及芯片辐照检测技术领域，包括有辐照主机系统，多脉冲高压、大电流电源，电源控制器，真空腔室，
真空泵组，高速脉冲进气阀，载物台以及芯片失效实时监测系统。本发明可以用来模拟空间多脉冲高速等离子辐照宇航级芯片后对芯片失效的影响，本发明所设计的等离子体源产生的目标等离子体和空间环境下的太阳风等离子体参数接近，是一种用来模拟该效应对宇航级电子学芯片致盲效应的有效手段。
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“模拟太阳风轰击宇航级芯片的等离子体辐照平台” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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