本发明公开了一种计及
芯片影响的设备可靠性确定方法及系统，包括：基于历史数据进行统计分析，确定不同阶段的第一设备失效率；基于不同阶段的第一设备失效率，确定不同阶段的第一板卡失效率；基于所述第一设备失效率、第一板卡失效率和第一芯片失效率确定协变量函数；基于目标设备厂家采用的芯片，确定第二芯片失效率；基于目标设备厂家的板卡设计工艺和制造工艺能力，确定第二板卡失效率；基于所述第二芯片失效率、第二板卡失效率和协商变量函数确定目标设备厂家的第二设备失效率，以基于第二设备失效率进行设备可靠性评估。本发明能够为国产芯片的二次设备可靠性提供量化评估依据。
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“计及芯片影响的设备可靠性确定方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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