本申请实施例提供一种数据处理方法及相关装置，包括根据失效
芯片的测试结果数据获取各个嫌疑失效路径；获取各个所述嫌疑失效路径的各个嫌疑失效穿孔；确定各个所述嫌疑失效穿孔的穿孔失效风险，并进行风险排序；根据所述风险排序，优先对各个所述嫌疑失效穿孔中风险高的所述嫌疑失效穿孔进行物理失效分析。本申请实施例所提供的数据处理方法可提高失效点位置定位的精准度。
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“数据处理方法及相关装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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