本实用新型公开了一种智能卡测试设备,主要针对智能卡在生产和使用过程中,可能存在的物理结构被破坏或数据异常丢失等失效现象而提出的一种测试设备。该设备实现现有测试方案中所没有描述的测试项目,能够同时对智能卡进行带电老化寿命、金属面耐磨强度两个项目进行测试。该设备所包括的主要结构如下:直流电源系统;机械运动结构;夹卡装置;智能卡读卡结构。本实用新型提出的智能卡的测试设备,对智能卡可靠性进行严格地考核,能够提前发现由于智能卡结构和系统设计可靠性问题而导致的生产测试成品率的低下,或者智能卡内所存储的数据易丢失等问题。
声明：
“智能卡测试设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1078
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
