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工作原理
iEDX-150T通过微型X光管发射高能X射线，穿透镀层并激发基材与镀层原子产生特征X荧光。高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕捉荧光信号，经多道分析器转换为能量谱图，结合智能算法与标准数据库，精准分离多层镀层的信号贡献，同步计算各层厚度（如铜上镀镍再镀金）及元素含量。其核心优势在于无需破坏样品，单次测量仅需15-30秒，且可自动补偿基材成分对镀层测量的干扰。
应用范围
该设备覆盖多行业检测需求：
电子制造：检测PCB、连接器、LED支架的镀金、镀镍、镀银厚度；
汽车零部件：分析发动机部件、传感器、装饰件的电镀层耐腐蚀性；
珠宝检测：测定贵金属首饰的镀层厚度及纯度。
技术参数
iEDX-150T具备以下核心指标：
测量范围：0.01-50μm（镀金0.01-6μm，镀镍0.1-30μm）；
元素分析：从钛（Ti）到铀（U），覆盖30种以上元素；
光斑尺寸：最小直径0.2mm，适配微小区域检测；
样品台：XYZ三轴电动移动，最大负重5kg，支持不规则样品定位；
安全设计：符合ISO 3497标准，表面泄漏辐射＜0.5μSv/h。
产品特点
高精度与灵活性：采用激光自动对焦与CCD摄像系统，精确定位测量区域，避免人为误差；
智能化操作：内置五金行业专用分析软件，支持一键生成检测报告，兼容Excel数据导出；
模块化设计：可选配多种准直器与过滤器，适应复杂形状样品的检测需求；
耐用性与便捷性：油冷X光管寿命超10年，电子制冷SDD无需液氮维护，降低长期使用成本。
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