一种测试技术领域的基于电路分割的低功耗扫描测试方法,步骤如下:1)电路分割:对设计进行逻辑划分,划分后一个逻辑部分对应一个扫描测试模式;2)扫描时钟设计:对各个逻辑部分进行扫描测试时,每一时刻只有一个逻辑部分的扫描时序单元的时钟可控制;3)独立扫描链电路设计:对于整个设计进行逻辑分割后,各个划分的测试逻辑部分是互异的关系;4)输入输出复用:划分的多个逻辑部分都有对应的扫描链,各逻辑部分的扫描链通过多路选择器复用共同的输入输出端口。本发明减少了同时进行扫描测试的扫描触发器的数量,大大降低了瞬时测试功耗,平均功耗也有所降低,从而避免了
芯片在测试过程中由于功耗过大而失效。
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来源：北方有色网
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