本发明属于半导体光电器件的制造技术，涉及一种半导体激光器的可靠性测试方法，此方法为检测产品的工作性能。其检测方法如下:A:在常温25℃下给激光器加一个工作电流使出光功率为Po，测试其当前的背光电流Im并记录；B:在高温85℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P1并记录；C:在低温-40℃下给激光器加一个工作电流使背光电流为Im，测试其当前的出光功率P2并记录；D:高温85℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P1/Po)；E:低温-40℃下激光器的光功率变化TE=10LOG(P2/Po)；F:合格判定标准为TE≤1.5dB。本发明的优点是可以预先判定一个激光器的工作稳定性和失效模式，将产品成本降到最低，其测试的方法简单方便，测试系统搭建的成本低。
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来源：北方有色网
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