本发明涉及光模块检测技术领域，提供了一种筛选光模块退化的检测方法和装置。其中方法包括在进行老化测试前，给予光模块中激光器预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值V
f0；在完成老化过程后，再次给予光模块中激光器相同的预设的驱动信号，采集光模块驱动电路的激光器驱动电压值V
f1；若电压值V
f1与电压值V
f0相差超过预设阈值△V，则反馈激光器退化信息。本发明通过对光模块中激光器工作状态的监控和控制，除了直观的发光变化和背光变化进行筛选外，本发明增加了激光器
芯片的V‑I特性进行进一步的检测和筛选，可进一步将一些潜在的失效模块筛选出去，从而提高光模块检测筛选的有效性和全面性。
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“筛选光模块退化的检测方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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