本申请实施例提供了一种由晶片污染引起的晶振跳频失效的检测方法、装置、系统、电子设备及计算机可读存储介质，涉及晶片污染检测的技术领域。该方法包括：待检测的晶振放置在恒温箱中，晶振的表面贴附有热电偶；在恒温箱的温度为第一温度时，获取由热电偶采集的温度和晶振的相应频率；在恒温箱的温度调整至第二温度时，以预定频率获取由热电偶采集的温度和晶振的相应频率，直至热电偶处于热平衡状态时停止获取；根据由热电偶采集的温度和晶振的相应频率，以及晶振的标称频率和预设的频率偏移范围，确定晶振是否存在跳频失效。本申请实施例提供的方法可以在无需剖片、无需在特定的温度点长时间保温的情况下，即可高效检测晶振的跳频失效。
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“由晶片污染引起的晶振跳频失效的检测方法、装置和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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