本申请公开了一种存储器
芯片的失效单元检测修复方法，包括：对存储器芯片进行检测；若存在失效单元，则获取所检测到的第一失效单元的失效行地址线/失效列地址线；设置失效行地址线/失效列地址线，使其能够被识别为有效行地址线/有效列地址线；对经过设置处理后的存储器芯片进行检测；确定是否还存在其他失效单元；若是则获取第一失效单元所位于的列地址线/行地址线，利用一列地址冗余线/行地址冗余线替换失效列地址线/失效行地址线，转向对存储器芯片进行检测；否则利用一行地址冗余线/列地址冗余线替换失效行地址线/失效列地址线。本申请的方法使得对失效单元的检测修复效率更高，且准确率更高，耗时少，降低了工艺时间成本。
声明：
“存储器芯片的失效单元检测修复方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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