本申请提供了一种高电阻结构的原位温度检测装置、
芯片和失效检测方法。该高电阻结构的原位温度检测装置包括：二极管，具有正极端子和负极端子；金属导线，与二极管的负极端子相连接。二极管控制电流的走向，金属导线用来感应高电阻结构辐射出的热量，利用金属导线的温度与电阻之间的特定关系，即金属导线的电阻值与电阻温度系数的乘积为常数，即可通过本申请的原位温度检测装置来检测高电阻结构的产生焦耳热后的温度值，进而得到准确的失效检测结果。
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“高电阻结构的原位温度检测装置、芯片和失效检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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