本发明提供了一种存储
芯片的测试装置及方法，涉及手机存储技术领域。该测试装置包括：测试主板，所述测试主板上设置有中央处理器CPU、可编程逻辑器件FPGA、插座SOCKET夹具以及至少一个存储芯片eMMC颗粒；所述eMMC颗粒放置于所述SOCKET夹具中，所述FPGA通过一个通路与一个eMMC颗粒连接。本发明的方案实现eMMC颗粒的批量无损检测，提升测试验证效率，通过FPGA将CPU及eMMC颗粒之间的DATA和CLK信号进行传输与缓存，并在时序上进行相位移动处理，分别记录异常状态下建立时间和保持时间的时序边界，获取eMMC颗粒的数字化的时序裕量窗口信号，代替了传统的示波器UT测试。
声明：
“存储芯片的测试装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1081
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
