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工作原理
Formtracer CS-3200S4采用高精度金刚石触针（针尖半径2μm）与闭环反馈驱动系统协同工作：测量时，触针以0.5mN的恒定测量力（可调范围0.1-10mN）沿被测表面垂直移动，表面微观起伏使触针产生位移，该位移通过高分辨率电感传感器（分辨率0.0001μm）转化为电信号；闭环驱动系统（PID控制算法）实时调整触针位置，确保测量力恒定，消除因接触力波动导致的误差；电信号经24位ADC模数转换后，由嵌入式处理器（ARM Cortex-A53）计算表面粗糙度参数（Ra、Rz、Rq等），同时支持轮廓曲线（波纹度、直线度）、波纹度（Wt、Wq）及功能参数（Mp、Ml）的同步分析；测量结果通过USB 3.0或Wi-Fi 6实时传输至PC端软件，支持ISO 4287、ISO 13565、ASME B46.1等多国标准，数据可导出为PDF/CSV格式，兼容QC-CALC、Minitab等统计软件。
应用范围
覆盖多行业高精度检测场景：精密制造（轴承滚道表面粗糙度、齿轮齿面形貌、液压阀体密封面粗糙度）、汽车零部件（发动机缸体珩磨纹、变速器同步器摩擦面、刹车盘表面波纹度）、半导体封装（晶圆背面抛光粗糙度、芯片键合区表面形貌、引线框架镀层粗糙度）及医疗器械（人工关节表面纹理、手术器械刃口粗糙度、植入物涂层均匀性）等，尤其适合测量超光滑表面（Ra＜0.01μm）、微结构表面（如激光加工纹路）或易变形材料（如塑料薄膜）；支持与工业机器人联用，实现生产线在线检测，适配节拍≤5秒/件的自动化测量需求；可选配激光干涉仪校准模块，将测量不确定度优化至0.001μm（符合ISO 10360-7标准），满足实验室级计量要求。
技术参数
测量范围：纵向80μm（可扩展至800μm），横向200mm（可扩展至1000mm）；分辨率：0.0001μm；重复性：±0.0005μm；触针针尖半径：2μm（可选1μm/5μm）；测量力：0.1-10mN（可调）；驱动速度：0.05-2mm/s（可调）；工作温度：15℃~35℃；工作湿度：20%~70%RH（无冷凝）；电源：AC100-240V 50/60Hz；重量：15kg（主机）；防护等级：IP40；兼容软件：Form Master、PolyWorks、GageMaster。
产品特点
全系列通过日本AIST计量认证，闭环驱动系统使测量力波动＜0.01mN，数据稳定性较开环系统提升5倍；智能分析算法支持300+表面参数自动计算，涵盖传统粗糙度、功能参数及三维形貌参数，满足全场景评价需求；一键式操作界面（7英寸触摸屏）集成测量、分析、报告生成全流程，操作门槛降低70%；模块化设计支持触针、驱动单元快速更换，适配不同粗糙度范围检测需求；配备自清洁空气吹扫系统与恒温控制模块，可有效过滤0.5μm以上颗粒物并维持20℃±0.5℃测量环境，确保数据一致性。Formtracer CS-3200S4以“纳米级精度、全功能评价”的特性，成为表面形貌检测的标杆设备。
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