本发明公开了一种基于图像熵和递归分析的超声图像缺陷检测方法，属于超声波无损检测技术领域。该方法包括：1、对同一工件或同一批相同工件进行线性阵列相控阵超声扫描，连续采集到多幅B扫描图像；2、对采集到的B扫描图像进行灰度化和中值滤波预处理；3、计算预处理后B扫描图像的图像熵，得到B扫描图像熵序列；4、计算并选择图像熵序列的时间延迟和嵌入维数，将其作为递归分析所用的参数；5、根据选取的参数对图像熵序列进行递归分析，得到序列的递归图，根据递归图判断采集的图像中是否存在含有缺陷的B扫描图像。本发明可以有效识别多幅B扫描图像中的缺陷，不需要进行图像截取分割操作，存储数据量小，识别效率高，适用性强。
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来源：北方有色网
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