本发明公开了一种电子产品防尘性能无损测试方法，包括以下步骤，干燥处理，将电子产品放置在高温干燥箱中干燥，然后静置一段时间取出；电子产品预处理，对经过干燥处理的电子产品进行检查，检查电子产品中密封圈的硬度、老化程度和形变，并记录数据；开启测试，向砂尘箱中加入砂尘粉和铁屑粉，将电子产品放入砂尘箱中，砂尘箱的风扇通电工作；停止测试，关闭砂尘箱的风扇，等待砂尘完全沉降后打开砂尘箱，取出电子产品。本发明的优点在于砂尘粉中混入铁屑粉，再将电子产品置于砂尘箱中，砂尘箱进行低频振动，电子产品的磁力能够吸引铁屑粉，在振动的作用下铁屑粉更容易进入电子产品内部，从而提高防尘测试的效果。
声明：
“电子产品防尘性能无损测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1145
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
