本发明涉及一种检测嵌段聚合物中接枝基团所在位置的方法。它基于结构复杂的聚合物结构中各组分，各个基团所处聚集态、化学结构的差异性上得到的关于基团所在位置的信息。在检测过程中，给予实验体系一定外部的扰动，收集一系列谱线，然后通过扰动相关移动窗口二维相关方法分析光谱数据，分析各组成部分的响应行为以及特征接枝基团的响应行为，由此得到特征接接枝基团与某组分、基团响应的信息是否具有一致性，既而通过进一步判断，得到特征接枝基团所在位置的信息。本发明适用于具有复杂化学、聚集态结构的聚合物体系的接枝基团的检测，并且分辨率高，重复性好，检测结果稳定，操作简单，具有推广和应用价值。
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来源：北方有色网
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