本发明涉及晶体管检测技术领域，尤其为VDMOS垂直栅场效应晶体管性能检测装置，包括电路板和晶体管，所述电路板的顶端固定连接有挡板，所述挡板的顶端一侧固定连接有水平设置的电热丝，所述电路板的顶端电性连接有钢丝，所述钢丝的另一端固定连接有水平设置的压板，所述压板的顶端固定连接有竖直设置的弹簧，且弹簧的顶端与电路板的底端固定连接，本发明中，通过设置的电热丝、曲杆和金属丝实现对高温状态下的晶体管的稳定性测试，能够检测晶体管能否在散热不良的恶劣的工作环境中正常运作，缩短实验参数与实际使用的参数之间的差距，这种设计构思新颖，设计科学，具有巨大的经济效益和广泛的市场前景，值得推广使用。
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“VDMOS垂直栅场效应晶体管性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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