本发明公开了一种测试极片孔隙率的方法，该方法包括：裁取适量极片，并计量所述极片的质量M0；计量所述极片的体积V；将所述极片放置到容器中，所述容器内设置有十六烷，所述十六烷将所述极片完全浸泡，并浸泡一定时间；取出所述极片，放置于滤纸上，吸拭至恒重，计量所述极片的质量M1；根据公式ε＝(M1-M0)/ρ/V×100％，计算所述极片的孔隙率ε。本测试方法不用压汞仪繁琐复杂困难的操作过程，降低了测量成本，另外，减少了汞的污染和对操作人员的潜在危害，同时也减少了对废汞的处理工作，提高了测试效率。
声明：
“一种测试极片孔隙率的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
980
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
