本发明公开了一种基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置，属于测试电路技术领域，它包括数据信号处理与检测装置、FR4基板，所述数据信号处理与检测装置包括信号处理
芯片、通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕、4.2V通用
锂电池、配置电路芯片，所述通用MCU、双路CAN收发器、USB通信接口芯片、SD卡存储芯片、LCD显示屏幕和配置电路芯片连接于FR4基板的上表面上，所述通用MCU与双路CAN收发器之间采用双隔离的方式布设。本发明提高了测试的可靠性和易实现性，具有良好的实用价值。
声明：
“基于MCU的高耐压双隔离CAN收发器测试电路技术装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
869
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
