本发明涉及一种
隔膜表面
铜枝晶的分析方法。该分析方法包括以下步骤：1)将拆解
锂离子电池得到的隔膜进行清洗，得到待测样品；2)使用原子力显微镜对待测样品进行扫描，依据扫描图像分析得到待测样品上铜枝晶的分布和生长高度。本发明提供的隔膜表面铜枝晶的分析方法，通过对隔膜进行清洗、原子力显微镜分析，实现了隔膜上生长铜枝晶的精细表征分析，该方法可以同时对铜枝晶的分布和生长高度进行表征，可以为相关基础理论研究或电池性能的优化提供有效支持。
声明：
“隔膜表面铜枝晶的分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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来源：北方有色网
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