本发明涉及
锂电池保护板技术领域，且公开了一种锂电池保护板MOS失效检测技术，包括失效检测电路，所述电路主要由两个隔离电源、限流电阻和光耦电路构成；其中Q1为放电MOS，Q2为充电MOS；Q1的1脚为G极，接放电MOS开启控制信号DSG，当DSG输出为高电平时，Q1导通，当DSG信号为低电平时，Q1断开，Q1的3脚为MOS管S极接电池总负B‑；Q2的1脚为G极，接充电MOS开启控制信号CHG，当CHG输出为高电平时，Q2导通，当CHG信号为低电平时，Q2断开，Q2的3脚为MOS管S极接外部负载或者充电器的负极P‑。本发明通过隔离的电源和光耦检测充放电MOS是否失效，可以不受电池和外部电压对判断的影响，能更及时有效全面检测MOS管的失效状态。
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“锂电池保护板MOS失效检测技术” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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