一种
芯片测试方法及
锂电池保护芯片的测试电路,所述芯片具有地管脚,所述芯片包括第一芯片单元和第二芯片单元,所述第一芯片单元与所述地管脚连接,所述第二芯片单元不与所述地管脚连接,所述芯片测试方法包括如下步骤:先使所述地管脚悬空;再采用共地源测试装置对所述第二芯片单元进行测试。所述芯片测试方法可以采用共地源测试装置对第二芯片单元进行测试,降低了芯片测试的成本且简单易于实现。所述锂电池保护芯片的测试电路简单且易于实现,减小了测试成本。
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“芯片测试方法及锂电池保护芯片的测试电路” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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