本发明涉及一种测量计算Pb-Sn-Al层状
复合材料界面电阻率的方法,属层状块体材料界面电阻率测算技术领域。假设有一个界面无接触电阻且与待测材料具有相同形状和横截面积的Pb-Al材料参照体,通过四点共线探针法测量电阻法,测得被测体总电阻及Al、Pb基体材料电阻RAl和RPb,通过扫描电镜微尺度标定技术,测得被测体的Pb基体宽度l’Pb、Al基体宽度lAl、单侧界面宽度l界面和横截面面积s,并计算出被测Pb-Sn-Al层状复合块体材料的Al、Pb基体的电阻率,通过公式,得出参照体电阻,再根据公式,计算获得界面电阻率。具有操作方便,计算方法简便易行,被测层状复合块体材料界面宽度可达到微米级以下等优点。
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“测算Pb-Sn-Al层状复合材料界面电阻率的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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