本发明公开了高炉渣、转炉渣和真空精炼渣X射线荧光分析漂移校正样品及其制备方法，属于冶金材料分析技术领域。该制备方法包括将炉渣样品粉粹研磨得颗粒样品，还包括将颗粒样品置于高温炉中，缓慢升温至1250±10℃，熔融10～20min，得到熔体，再将熔体倒入预先加热至200～400℃的模具中，自然冷却至室温，得到玻璃状样品。本发明设计的制样方法简单可行，相比于传统的粉末压片法，能够在较大程度上节省人力及物力，且制备的漂移校正样品质地均匀，外观完整，稳定性高，使用寿命达半年以上，显著提高了高炉渣、真空渣及真空精炼渣的测量过程稳定性，大大降低了因样品变质引起的分析波动，提高产品测定结果的准确性。
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来源：北方有色网
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