本发明涉及一种基于反卷积的双光路光谱测量装置，其特征在于该装置设置为双光路结构，一光路由目标物镜、狭缝、准直镜、分束镜、色散元件、第一汇聚镜头和第一CCD相机依次组成，另一光路由分束镜、第二汇聚镜头和CCD相机依次组成。本发明针对现有基于狭缝的光谱仪在弱光下探测能力受限的关键问题，采用一个更宽的狭缝来代替，以增加系统的光通过量，使其在弱光下有更好的探测能力，并通过计算未色散光的原像和色散后光的像的反卷积来获取光源光谱。本发明广泛应用于冶金、地质、化工、医药和环境等领域，特别适用于像生物医学、夜视等弱光场合，应用范围宽广。
声明：
“基于反卷积的双光路光谱测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
831
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
