其他有色金属理论与应用

具有测试功能的半导体集成电路及制造方法 708     

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一种逻辑集成电路包括具有预定逻辑功能的逻辑电路;读/写存储器电路;测试电路,用于测试存储器电路中是否包括失效位;和边界锁存器电路,由多个触发器电路形成,能够使所述逻辑电路与所述存储器电路之间的信号锁存,并且还形成一个移位寄存器。而且,该逻辑集成电路还设置有失效援救信息产生电路,用于在利用测试电路执行测试期间,将测试结果存储到边界锁存器电路,并且根据所存储的测试结果,产生失效援救信息,以救援所述存储器电路的失效。安装在逻辑集成电路上的测试电路能与内置存储器电路的测试并行地产生用于救援失效位的信息,并且还能向外部输出同一信息并援救芯片之内的RAM。

灾害探测与抑制装置 821     

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一种灾害探测和抑制装置和用于排出容器的内容物的单动排出阀。所述阀具有:阀体,其具有穿过其中的通道,所述内容物通过所述通道排出;保持在所述阀体内的易碎的密封件,在完整时密封所述通道;以及包括可从第一位置移动到第二位置的衔铁的螺线管。热电堆或热电堆矩阵感应近红外能量以探测火灾并致动所述阀。监测热电堆信号的放大器的失效。热动或手动按钮也可用作致动该阀,操作者面板监测失效情况。可使用包括石油探测器、化学传感器、湿度探测器、辐射探测器、气体探测器和移动体探测器在内的其它灾害探测器。

预测包含多个部件的产品的预期寿命的方法和装置 938     

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本发明涉及用于对包括至少两个部件(K1、K2、K3、…KN)的产品的预期寿命进行预测的一种方法和一种装置(20)。所述预期寿命根据该产品的一个假定现场负荷(1、3)而被测定。对所述产品的部件(K1、K2、K3、…KN)加载不同的负荷(T、ΔT),并在不同的负荷(T、ΔT)下分别将其驱动直至失效。借助一个部件(K1、K2、K3、…KN)的与负荷相关的失效时间(T、N),纪录所述部件(K1、K2、K3、…KN)的一个寿命终止(EOL)曲线(8)。所述产品的一个EOL曲线(11)如此来获得,即它在不同的负荷(T、ΔT)下包含所述部件(K1、K2、K3、…KN)的EOL曲线(8)中的那些在相应的负荷(T、ΔT)下分别具有最短的失效时间(T、N)的EOL曲线。将所述产品的预期寿命作为所述产品的EOL曲线(11)上的与所述产品的给定负荷(1、3)相关的函数值来获得。

半导体集成电路及其测试方法 1083     

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本发明提供了一种半导体集成电路及其测试方法。编程电路在第一编程单元被编程时激活通过信号。当内部电路的测试通过时,第一编程单元被编程。通过外部控制,模式设置电路将运行模式转换为正常运行模式或者测试模式。当通过信号在正常运行模式期间被失活时,状态机允许内部电路的部分电路执行不同于正常操作的异常操作。通过在正常运行模式期间识别异常操作,可以容易地识别出半导体集成电路是坏的。由于无需转换到测试模式就可以识别失效,因此例如购买半导体集成电路的用户也可以容易地识别出失效。

诊断用于车辆的绝缘电阻监测系统中的硬件的装置和方法 1194     

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本公开提供了诊断用于车辆的绝缘电阻监测系统中的硬件的装置和方法。在至少一个实施方式中，提供了用于诊断在绝缘电阻监测系统中的电子设备的装置。装置包括用于电耦合到包括多个开关的多个电子设备的控制器，所述多个开关电耦合到在高电压网络和低电压网络中的正分支和负分支。多个电子设备配置成在车辆中执行绝缘电阻监测。控制器还配置成执行下面的操作中的至少一个：开启和关断多个开关中的任何数量的开关以确定正分支和负分支的总电压。控制器还配置成基于总电压来检测相应于多个电子设备中的任一个的失效的、在正分支和负分支的至少一个中的故障。

固定式蓄电池的内阻抗测量装置及其方法 1209     

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电池系统被广泛用于应急电源设备或通信网络电源设备,其有效管理很重要。当在电池系统的运行期间彼此串联的电池中的任何一个失效时,由于不能保证系统的稳定性,因此通信网络的稳定运行出现问题。在分离差的电池的方法中,在浮动充电状态操作电池而不需要进行分离,以产生包含充电电流的方波电流,并且该方波电流被容易地产生为流经电池单元,由测量信号从电池的端电压产生的电压信号被处理,从而通过同步检测计算算法仅使内阻抗电压信号与谐波纹波电压和噪声电压分离,以计算内阻抗或其有效值,即,电阻成分。当在通过普通滤波器仅过滤出基频和相似的成分之后应用该算法时,可提高测量精度,并减少计算时间。

应变体、应变体的制造方法、以及物理量测量传感器 769     

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在通过臂部(20)～(22)将框部(11)和中央部(12)连接起来的结构的应变体(10)中，通过对除了配置有应变仪(A1)等的臂部(20)～(22)的其他部分进行掩蔽并进行喷丸处理，在臂部(20)～(22)的周面上形成压缩残留应力层。当应变体(10)受到来自外力的载荷时，臂部(20)～(22)发生弹性变形，但通过形成的压缩残留应力层，臂部(20)～(22)难以发生疲劳失效。只要通过进行投射材料的投射作为喷丸处理，臂部(20)～(22)的表面粗糙度增大，应变仪的粘贴性提高从而检测精度也提高，由此能够确保稳定的测量。

用于控制和监测绞车、升降机或起重机的致动器的方法以及执行这样的方法的系统 1271     

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本发明涉及用于控制致动器(1)的方法，所述致动器(1)尤其是绞车、升降机或起重机的致动器(1)，其中，所述致动器(1)使用失效安全单元(2)来控制。为了改善相应的方法，根据本发明在所述失效安全控制单元(2)中计算基于其来控制所述致动器(1)的期望值。本发明还涉及用于执行这样的方法的系统。

模块化测量探头 783     

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公开了一种测量探头,例如碰触触发式探头,其包括连接到基部模块(20;120)上的触针模块(22;122)。所述触针模块(22;122)包括壳体和可动地连接到所述壳体上的触针保持器(24;132)。所述基部模块(20;120)包括测量部分(36;124),用于产生表示所述触针保持器(24;132)相对于所述壳体的运动的测量数据。所述触针模块(22;122)具有内置失效模式,并由此具有基本上预定的使用寿命。在一种实施方式中,通过将电池(34)一体地结合到所述触针模块(22)中提供所述内置失效模式。还描述了提供机械失效模式,其中,触针模块(122)的部件在一定的使用量之后突然失效。

后处理装置的NOX转化效率的车载诊断监测 884     

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本发明涉及后处理装置的NOX转化效率的车载诊断监测。一种用于指示动力系中的失效催化剂的方法,所述动力系包括内燃机和具有后处理装置的后处理系统,所述后处理装置采用催化剂来转化NOX,所述方法包括:监测进入后处理系统的NOX含量;监测离开后处理系统的NOX含量;基于进入后处理系统的NOX含量和离开后处理系统的NOX含量来确定实际转化效率;监测影响后处理装置的转化效率的因素;基于影响后处理装置的转化效率的因素确定表示失效催化剂的失效转化效率;和基于将所述实际转化效率与所述失效转化效率进行比较来指示所述失效催化剂。

半导体设备及其测试方法 922     

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一种用于半导体设备的测试方法,所述半导体设备设置有使用由第一编码和第二编码组成的乘积码以实现存储器的纠错的ECC电路,所述测试方法包括以下步骤:获得通过分别根据第一编码和第二编码的独立校正操作实现的第一通过/失效确定结果和第二通过/失效确定结果;将该结果分别记录在第一失效存储器和第二失效存储器中;执行与第一失效存储器的内容与第二失效存储器的内容有关的指定逻辑运算,如与运算;并根据逻辑运算的结果,对失效位和潜在失效位进行补救。

用于监测存储器以便引退的系统和方法 878     

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本主题申请涉及用于监测存储器以便引退的系统和方法。本文提出的系统和方法提供了监测区块、页面和/或条带降级。在一个实施方案中，控制器可操作为扫描存储器的第一区块以识别所述第一区块的一部分中的失效。所述控制器暂停对所述第一区块的所述失效部分的输入/输出(I/O)操作，并且测试所述第一区块的所述失效部分以确定所述失效是否为瞬时失效。测试包括为所述第一区块的所述部分加载数据，并且从所述第一区块的所述加载部分读取所述数据。如果在测试后所述失效减弱，则所述控制器还可操作为确定所述失效是瞬时失效，并恢复对所述第一区块的所述部分的I/O操作。

融合飞行器的飞行参数的测量值的方法和系统及飞行器 821     

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披露了用于融合飞行器的飞行参数的、通过至少一个方程而彼此关联的测量值的系统(1)和方法以及包括该系统的飞行器。该系统(1)包括：用于采集飞行参数的至少一个测量值的至少一个采集模块(2)；用于通过检查飞行参数的一个或多个测量值是否是一个或多个方程的一个或多个解来将第一有效性得分赋予方程的评分模块(3)；用于根据第一有效性得分来将第二有效性得分赋予涉及一个或多个采集模块(2)的失效情形的评分模块(4)；用于根据第二有效性得分来确定飞行参数的测量值的有效性的确定模块(5)；用于合并飞行参数的测量值的合并模块(6)；用于将飞行参数的合并测量值传输至用户装置(8)的传输模块(7)。

用于在运动的物体上定位测量点的方法 763     

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本发明涉及一种用于相对于物体(5)上位置固定的特征(8)定位测量点(15、18)的方法，所述物体(5)沿移位路径移动。构成有第一和第二光学检测区(10、11)，通过所述光学检测区确定所述特征(8)的当前实际位置。所述两个光学检测区(10、11)设置在彼此重叠的位置中，从而构成重叠部段(13)。所述测量点(15、18)分别设置成与所述特征(8)隔开预先确定的固定的距离(16、19)。如果所述特征(8)处于第一光学检测区(10)之内，则在已定位的第一测量点(15)处进行测量。如果所述特征(8)处于重叠部段(13)之内，则使第一测量点(15)失效并激活第二测量点(18)，并且执行测量。

用于车辆测距的方法和系统、车辆及程序产品 1097     

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本发明涉及车辆领域，具体而言涉及一种用于车辆测距的方法，其包括以下步骤：S1由本车辆的传感器检测目标车辆的车牌；S2基于所检测的车牌成像识别车牌信息并获知车牌尺寸；S3在传感器坐标系中对车牌成像进行校正；S4在传感器坐标系中计算传感器与车牌的距离；S5将传感器坐标系转换成本车辆坐标系；S6在本车辆坐标系的情况下对目标车辆的车牌位置进行建模；和S7基于车牌模型获得本车辆与目标车辆的距离。本发明还涉及一种用于车辆测距的系统、相应车辆及计算机程序产品。通过本发明能在利用现有装置的情况下借助间接测量实现可靠的车辆测距。由此还能实现车辆测距的简单冗余方案，从而在车辆测距装置失效的情况下仍然确保车辆行驶的安全性。

用于旋转驱动的线性执行器的角度测量装置 1002     

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本发明涉及一种用于旋转地被驱动的线性执行器的、尤其用于离合器执行器的角度测量装置，所述角度测量装置至少具有如下部件：‑具有转子轴线的转子元件，所述转子元件同心设置地与旋转的驱动器的转子一起转动，所述旋转的驱动器用于能轴向运动的线性执行器元件；‑具有极性的第一测量磁体装置，所述第一测量磁体装置相对于转子元件固定，其中极性定向成，使得以从至少一个测量位置中能确定的方式随转子元件的转动而角度单义地改变磁场线；‑处于测量位置之一处的360°传感器，所述360°传感器用于基于测量磁体装置检测角位置；处于测量位置之一处的转数传感器，所述转数传感器用于基于测量磁体装置检测所经过的绝对转数。借助在此提出的角度测量装置，在结构空间需求小的情况下确保防失效地读出静液压离合器执行器的例如主动缸的绝对路径位置。

测试系统以及半导体元件 916     

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本发明披露了一种测试系统以及半导体元件。该测试系统，用以在晶圆级烧入测试期间检测是否有一或多个联结性失效状况发生于一测试机台和一待测晶圆的传输路径上。依据本发明一实施例，该测试系统包含一探针卡和n个晶片。该探针卡包含m个第一信号接点，用以接收来自该测试机台的m个测试信号；n个第二信号接点，用以提供该测试机台n个测试结果；和一接点阵列。该探针卡借助多个探针与该待测晶圆接触。依此方式，该测试系统可检测是否有一或多个短路或开路发生于该测试机台和该待测晶圆的传输路径上。

计算机控制的风扇装置可靠性测试系统 1157     

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一种计算机控制的风扇装置可靠性测试系统,通过计算机控制的自动化方式对一组风扇装置进行可靠性测试,试系统至少包括:群组式风扇装置搭接模块、主监控模块、程控电源模块、转速控制信号产生模块以及运转特性检测模块;本发明以计算机控制的自动化方式对一组风扇装置进行可靠性测试,并可同时测量多种运转特性,包括单个风扇装置的消耗电流和所有风扇装置的总消耗电流以及单个风扇装置的风扇失效信号和循环转速信号,且可进而利用计算机自动化方式记录及汇总所有的测试结果资料,使得风扇装置的测试程序更省时省力且具有更高的效率。

效能侦测装置 820     

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本实用新型公开了一种效能侦测装置，包括速率侦测装置和位移侦测装置，速率侦测装置包括速率传感器和发光二极管，位移侦测装置包括第一位移传感器和第二位移传感器；速率侦测装置位于固定盘和抛光垫整修器的侧面，并对准抛光垫整修器；位移侦测装置位于固定盘的上方，并对准固定盘和抛光垫。本实用新型的优点和有益效果在于：实现了及时发现抛光垫整修器及整修装备的故障或失效，减少抛光垫整修器作虚功，提高生产效率的效果；以及起到了精确掌控抛光垫整修器运转情况及效能，和提早侦错并及时发现问题及了解效能衰退幅度，减少停机检查维修的频率，提高生产效率的作用。

测试装置 797     

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本发明提供一种以高效率管理测试结果为目的的测试装置,该测试装置包括:测试被测试存储器的各单元的测试部;对应被测试存储器的各单元,在失效存储器中保存表示该单元好坏的失效信息的失效信息保存部;对被测试存储器具有的每个块,计数在该块内中被检测出的不良单元的数目的计数部;块接收要求读出块所包含的各单元的失效信息的读出要求接收部;将读出目标块内的不良单元的数和预先被确定的基准数进行比较的比较部;把读出目标块内的不良单元的数超过基准数作为条件,为了对读出要求回信,将包含读出目标块内的各单元的失效信息的回信数据列中,连续的复数的失效信息转换成表示品质不良的值的变换部;以及回信数据列压缩后回信的压缩部。

用于加热和烹调装置的温度测量电路 1218     

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一种温度测量电路,通过分支电阻将一个温度传感器,比如热敏电阻,连接到一个基准电压源,比较装置把所述传感器连接点的电压与规定的电压作比较,以检测所述温度传感器所检测的值,经过简化的电路能够检测出所述的温度传感器的失效,比如传感器的断裂或烧断。

健康监测系统的帮助诊断和维护方法与机构 921     

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本发明涉及健康监测网络的系统和方法,其利用对动态注册传感器数据流的实时故障检查来自动检测故障或失效传感器。监测系统和传感器网络可以提供单触式系统来在传感器需要注意时通知用户,而无需事先了解网络中的传感器的操作特性、安装方法或配置。网络利用决策引擎根据基于个人偏好和能力的简档帮助维护。

流体状态监测器 1049     

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本发明是一种小型设备和在工作设备中以有效方式直接监测工作流体状态和液面高度的方法。提供一种包括多个液体传感器和多个蒸汽传感器的传感器装置,在不同温度下互相结合使用时,可以全面评价流体的氧化降级,液体污染和固体污染以检测流体使用寿命的终结。通过在相同传感器装置上提供液体传感器和蒸汽传感器,本发明能够以小型、有效和经济可行的方式监测流体的状态以及在其他元件损坏和最终设备失效之前检测非正常的工作状态。

用于照明元件测试的故障保护电流源 905     

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提供了一种故障保护电流源，其可以用来在可靠性测试系统中安全驱动地LED。该电流源包括检测在LED可靠性测试系统中发现的常见故障的电路和过程。在检测到故障之后，该电流源在破坏性尖峰产生之前关闭驱动器。因为仅将真实LED失效计数，所以该故障保护电流源可以用来构造产生更准确的可靠性测试数据的可靠性测试系统。

电子镇流器的灯寿命终止单点感测、防电弧放电和空载保护 969     

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披露了系统和方法,所述系统和方法有利于感测灯处于寿命终止(EOL)阶段时或者灯经历例如灯与其支座之间的触点受损时可能出现的电弧放电传导情形时灯用镇流器中的脉冲。通过感测脉冲,微控制器可基于检测到的脉冲宽度区分EOL和电弧放电情形,并可起动适当的响应。例如,如果脉冲由电弧放电现象引起,则微控制器可在重启灯之前短时中断灯的工作,以减少电弧放电情形。如果脉冲由EOL情形引起,则微控制器可将灯置于预热或重启模式以加速灯的失效。在任一情况下,对感测脉冲的响应均减少可破坏灯座的危险高灯温的出现。

监测元件和结构的完整性的方法和装置 782     

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为监测置于包含处于环境压力下的流体(F)的环境中结构(10)的完整性提供一种方法和装置。结构(10)包括外壳(12)和多个内腔(14)。该方法包括:施加另一流体至腔体(14),施加的流体处于稍大于大气环境压力(F)的压力下。监测施加的流体的流率,来检测流率的变化。流率的变化表明了通过结构(10)的额外流体渗漏,从而提供了结构(10)的完整性失效的高级报警。通过使施加的流体流过高流量阻件(28)和用转换器(30)监测阻件(28)两端压力的变化,可实现监测功能。

用于预测发动机及其部件的剩余使用寿命的方法 1023     

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一种用于预测具有部件（18、19、22、23）的发动机（10）的剩余使用寿命的方法，所述部件由传感器（50）检测，该传感器（50）产生指示所述部件的运行状况的电子数据信号，该方法包括：识别（52）一个或多个部件并识别每个部件的限制所述部件和发动机的运行寿命的至少一种失效模式。该方法还包括：获得（62）并存储有关所述部件的与所识别失效模式关联的现有运行状况的数据；以及接着基于有关所述部件的现有运行状况的数据、有关与失效模式相关联的运行状况的历史数据、以及所预测的失效模式速率，确定（68）所述部件的剩余使用寿命。

使用线性反馈移位寄存器在存储器内建自测试环境中的故障诊断 1162     

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本发明所公开内容为在存储器内建自测试环境中对失败的存储器测试的测试响应标记进行暂时压缩的方法和器件,其目的是即使在检测到多个与时间相关的存储器测试故障时也能够进行存储器内建自测试操作。在本发明的一些实施例中,被压缩的测试响应标记在自动化测试设备器件上与存储器位置信息一起给出。根据本发明的各种实施例,带有嵌入式存储器(204)的集成电路以及存储器BIST控制器(206)还包括用作标记寄存器的线性反馈结构(410),可在存储器测试的某一测试步骤中对来自嵌入式存储器阵列的测试响应标记进行暂时压缩。在各种实施例申,集成电路还可能包括失效字计数器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214),用以对失败的测试响应收集存储器位置信息。

用于存储设备的预测定时校准 781     

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本发明提供了一种使用 2N位同步模式的独特方法，从而 可在存储系统中获得较快且较可靠的多数据通道的校准。如果 2N位同步模式是用已知的时钟 相位关系获得的，则可使用简单的解码逻辑来判定数据－时钟 相位的对准，从而从刚检测到的m位预测下一个m位。如果 接下来的m位模式不与预测的模式匹配，则在所进行的对准的 数据通道中对特定延迟值调节，当前的数据－时钟对准就失 败，且在该数据通道中的延迟被调整为新值。本发明也通过强 行使与不想要时钟信号沿，比如负向沿有关的所有预测的m位 模式失效从而保证了数据对准将发生在时钟信号的想要沿，比 如，正向沿上。

半导体芯片及其预烧测试方法 917     

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本公开提供一种半导体芯片及其预烧测试方法。另本公开执行一种预测试，预测试在预烧测试之前的预测试阶段期间检查插口的每一电接触件与半导体芯片的对应引脚之间的电连接。每一个电接触件与每一个引脚之间的电连接通过多个信号通道来检查。即使在信号通道中的一个失效时，只要信号通道中的另一个通过预测试，就仍可执行预测试和预烧测试。另外，通过多个信号通道的预测试阶段还提供信息，以用于确定半导体芯片的失效是否由预烧板的插口之间的电连接或由半导体芯片自身所导致。