939
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在此提供一种用于检测一个传送机部件内的密封区域的密封失效的装置和方法。一条流体管线延伸出该密封区域中并且一个传感器被连接到该流体管线上。一个阀被连接到该传感器后面,并且一个流体泵被连接到该阀后面。一个控制器被连接到该传感器、该阀以及该流体泵上。该传感器是在该密封区域的外部并且该阀是一个电磁阀。该密封区域是在一个空转皮带轮内,该空转皮带轮具有一个滚筒壳体、一个附连在该滚筒壳体的轴向端处的端盖和一个轴。该密封区域可以包含在一个机动化滚筒或一个中空传送机框架结构内。一种方法通过形成由一个表面和一个密封件界定的一个密封区域并且改变流体压力来检测密封失效,其中对流体压力的时间变化速率进行监测。
1245
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本文中描述微电子装置测试以及相关方法、装置和系统。装置可包含存储器阵列,所述存储器阵列包含某一数目的行和某一数目的列。所述存储器装置可进一步包含耦合到所述存储器阵列的电路。所述电路可经配置以对所述数目的行中的每一行执行测试操作以检测:所述数目的行中的第一行的第一失效;以及与所述数目的行的行集合相关联的额外失效集合。所述电路还可经配置以确定所述行集合是否邻近于所述第一行。此外,响应于确定所述行集合邻近于所述第一行,所述电路可经配置以产生指示所述数目的列中的列的失效的信号。
863
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一种阀门,具有用来在使阀门的阀帽(16)从它与阀体(12)的接合状态下分开之前释放内压的一整体部件。该整体部件具有一贯穿阀体的孔道(20)。这使得该阀门的内压在使阀帽与阀体完全拆卸开之前与大气压平衡。通过提供用于流体在阀帽和阀体之间的密封失效情况下穿过阀门泄漏到阀体外面的通道,贯穿阀体的孔道还用作泄漏检测器,经过者可以很容易地在观察位于阀体外面的孔道的暴露端时发现流体穿过阀门泄漏到阀体外面的现象。
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本发明提供了一种测量水温的传感器,其中通过将借助电线与引线连接的水温检测传感器与填充材料一起固定地装在水温检测部分中,水温检测部分形成在管形体的前部,与水温检测传感器相连的引线以Z形或以螺纹形布置并缠绕在形成于外壳后部的引线插入空间中,以使长度很长的引线插入外壳中,从而能够完全防止温度检测传感器接触水分,并且能通过引线将传递到温度检测传感器上的外部温度延迟一段时间间隔,从而外部温度不能直接影响温度检测传感器,并能将由于各种原因导致的温度检测传感器的失效减小到最低程度,并能由于温度检测传感器的工作而提供水温的彻底检测,并能保证一些装置的有效利用,这些装置具有必须精确执行水温测量和控制的过程,例如各种实验装置或热交换器。
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一种检测可能失效的吸入罐阀(30)的方法,其中阀(30)通过箍圈卷边(80)联接到罐(10),包括如下步骤:将罐(10)放置在罐夹具(220)中,罐夹具(220)将罐(10)保持在相对于直径测量装置(230)预定的测量高度位置处;在预定高度位置处测量箍圈卷边(80)的直径;比较测得的卷边直径与预定的合格区间,如果测得的直径不在预定区间范围内,表示吸入罐阀(30)可能失效。还提供一种卷边直径测量装置(200),包括:基座(210);由基座(210)支撑的直径测量装置(230);和由基座(210)支撑的罐夹具(220),所述罐夹具(220)布置成将罐(10)保持在相对于直径测量装置(230)预定的测量高度位置处。
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本发明涉及用于监测集成电路上金属退化的电路。一种集成电路(IC),具有诸如功率MOSFET的热发生元件、耦合到热发生元件的载流导体、邻近载流导体的感测导体以及耦合到感测导体的失效检测电路。当IC的热循环导致感测导体的电阻变得大于依赖于温度的阈值时,失效检测电路生成信号,该信号指示集成电路将不久失效。由通过将电流注入到感测导体中以生成电压来确定感测导体的电阻。依赖于温度的阈值是通过将电流注入到被布置得远离载流和感测导体的参考导体中所生成的电压。电压比较器比校两个电压以生成输出。替代地,失效检测电路包括处理器,该处理器从在集成电路上采取的温度测量计算依赖于温度的阈值。
1194
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根据第一实施方式,一种方法可以包括由用户设备确定波束失效实例的数目大于或等于至少一个阈值。该方法可进一步包括由用户设备发起对至少一个波束候选集的至少一个测量。该方法可进一步包括由用户设备暂停由用户设备执行的非波束候选测量。
759
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在本发明的框架内发展出一种用于监测储存在燃料箱中的燃料的质量的装置。主要应用领域是柴油驱动的车辆。因此,燃料优选是柴油燃料。所述装置的特征在于,设置用于确定燃料沸点的器件。此外,在本发明的框架内也发展出一种用于监测储存在燃料箱中的燃料的质量的方法。主要应用领域是柴油驱动的车辆。因此,所述燃料优选是柴油燃料。所述方法的特征在于,测量所述燃料的沸点或者该沸点与标准值的偏差。在分析实际失效的喷射泵时看出,燃料的过低的沸点会导致所述燃料的气体析出。结果是在喷射泵中形成气泡,在所述气泡中局部地不再存在必需的润滑。此外,润滑作用依赖于,所述燃料具有确定的最小粘度。低沸点也与低粘度相关。因此,沸点(初沸点,IBP)总体是刚好针对燃料的带来特别昂贵损害的标准偏差的特别好的指标。
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本发明提供一种用于远程监测等离子体(3)的方法和系统,该系统包括位于耦合等离子体源的近电磁场中的磁场天线(2),其中,该磁场天线是置于该近电磁场中的磁环天线并测量从该等离子体源发射的近场信号。一种无线电系统(1)用于分析宽频带上的低功率信号电平。通过对驱动频率的高次谐波上所存在的谐振特征进行拟合来评估诸如串联或几何谐振等离子体频率、和电子中性碰撞频率之类的等离子体参数,以标识制造等离子体系统中常见的电弧、泵、或匹配失效事件。
1096
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一种基于时间——特征值的数据记录对机器的剩余使用寿命进行预测的方法,包含以下步骤:步骤1)采用回归分析法拟合出反映时间与特征值之间变量关系的机器寿命曲线的数学模型,并根据所述模型计算出寿命曲线到达预设的失效阈值所需的时间,即预期剩余使用寿命;以及步骤2)、以随机缺省部分数据的方式重复执行上述步骤1,并根据重复执行的结果统计出预期剩余使用寿命的概率分布,其中最大概率分布处所对应的剩余使用寿命被确定为机器最有可能的预期剩余使用寿命。上述方法避免了以单一寿命曲线模型预测机器剩余使用寿命的偏执性,能够显著提高机器预测的可靠性和准确性。
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外部测试装置系被使用以仿造一内部BIST测试,因此使获取或产生详细测试结果为可能。通过在测试时间实时仿真BIST测试序列,外部测试器可能监控自BIST之一输出且决定失败发生的确实位置。外部测试器可能产生一位失败映像指示是否每一内存位置通过或未通过BIST测试。
1063
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提供一种半导体存储装置,具有可瞬时进行涵盖全地址空间的失效位图的确认的单元。具备如下强制控制电路中的任意一种:对由特定的地址信号所选择的内存单元的写入数据或读出数据的逻辑进行强制控制的数据逻辑强制控制电路(21),对由特定的行地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定行强制控制电路(40),对由特定的列地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定列强制控制电路(50)。该强制失效动作模式与通常动作模式可分别选择。
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本发明公开了一种具有改良式压柱的测试座及其测试系统,测试座包括:一吸测盘、一套衬座、及一基座。吸测盘具有多个压柱,每一压柱穿设有一通道及具有一图样的截面部;套衬座上具有可容纳多个待测传感器的多个容纳室,多个容纳室对应多个压柱而设置;基座上具有多个穿孔以容纳多个探针。其中,吸测盘的每一压柱分别置入套设于套衬座的每一容纳室。由此,可避免在吸取移动及压测待测传感器时,造成待测传感器的感应元件,产生测试失效等问题。
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本发明的各种实施例提供了一种用于监测硬盘健康状况的方法和装置。该方法包括获取与硬盘相关联的全维度特征,其中全维度特征包括以下各项中的至少两项:硬盘性能信息、数据完整性信息、输入/输出I/O正确性信息、以及硬盘的自动监视分析和报告技术S.M.A.R.T.报告。该方法还包括基于全维度特征确定硬盘的健康状况。在本发明的实施例中,根据反映硬盘的多方面状况的全维度特征对硬盘的健康状况进行评估,可以降低对硬盘的健康状况的误判率,从而使得硬盘更换次数降低、更换成本降低,并且还将会能够及时发现存储系统中实际失效的其他部件。
本发明提供了入口歧管、跳闸控制系统、跳闸歧管系统及其操作方法以及测试方法,其中尤其涉及配合例如涡轮机使用的跳闸控制系统,其包括支撑并提供流体给两个或多个跳闸歧管的入口歧管,每个跳闸歧管包括具有在跳闸联箱管线和返回或切断管线之间并联的两个或多个泄放阀从而将液压流体压力从跳闸联箱管线泄放进而导致跳闸的泄放回路。每个跳闸歧管的泄放阀由在控制器的控制下的一个或多个控制阀驱动。跳闸控制系统被双倍冗余的,其中所述跳闸控制系统包括并列运行的冗余的跳闸歧管,以使得每个跳闸歧管能被用于独立地接合涡轮机的跳闸装置,以及每个跳闸歧管包括在跳闸歧管的一组组件中的一个出现失效的情况下或者在跳闸歧管的多个组件被测试时,能使跳闸歧管运行以接合涡轮机跳闸装置的冗余的阀组和其他跳闸组件。
一种配合例如涡轮机使用的跳闸控制系统,包括支撑并提供流体给两个或多个跳闸歧管的入口歧管,每个跳闸歧管包括具有在跳闸联箱管线和返回或切断管线之间并联的两个或多个泄放阀从而将液压流体压力从跳闸联箱管线泄放进而导致跳闸的泄放回路。每个跳闸歧管的泄放阀由在控制器的控制下的一个或多个控制阀驱动。跳闸控制系统被双倍冗余的,其中所述跳闸控制系统包括并列运行的冗余的跳闸歧管,以使得每个跳闸歧管能被用于独立地接合涡轮机的跳闸装置,以及每个跳闸歧管包括在跳闸歧管的一组组件中的一个出现失效的情况下或者在跳闸歧管的多个组件被测试时,能使跳闸歧管运行以接合涡轮机跳闸装置的冗余的阀组和其他跳闸组件。
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描述了测量装置(2;90;100;150;200;250),其包括:测量部分(6;158;254),其用于获取对象测量结果;以及输出部分(8;46),其用于输出与所获取的对象测量结果相关的测量数据。设置失活部分(10;58;260),其用于阻止所述测量装置的正常操作,使得测量数据的输出被阻止。在使用中,失活部分(10;58;260)从装置使用模块(18;114B;162;206;268)读取装置使用信息,并在装置使用信息没有满足一个或多个预定标准时阻止测量装置的正常操作。装置使用模块可以设置成测量装置的一体的部分(114B;162;206),或者作为单独的激活按钮(18;268)。该测量装置可包括测量探头(2;90;100;150;200),例如碰触触发式测量探头。
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本发明提供一种对用于存储附加了错误订正符号的数据流的被测试存储器(以下称为DUT)进行有效测试的测试装置。该测试装置将从DUT读取的数据流所包含的各比特与期望值相比较。该比较结果作为表示DUT的每个存储单元是否合格的比特合格/失效信息被存储在第一失效存储器(以下称为FM)中。存储装置在每一页统计与期望值不一致的比特数,并在DUT的每一级别及每一页,判断与期望值不一致的比特数是否满足该级别的条件。该判断结果作为在每个级别表示各页是否合格的页合格/失效信息被存储在第二FM中。如果包含有对应某存储单元的比特的页满足某级别条件的比特合格信息存储在第二FM中,则测试装置将第一FM的比特合格/失效信息变更为表示该存储单元合格的值进行输出。
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本发明公开了一种用于执行放大器模块(12)的预测性维护的方法。经由测量数据获取单元(18)获取至少一个放大器模块(12)的至少一个参数。经由测量数据分析单元分析所获取的至少一个参数,以便预测至少一个放大器模块(12)的失效概率和/或时间。此外,描述了一种系统(10)。
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一种轴承剩余寿命的监测方法及监测装置,其中监测方法包括:在轴承运行过程中,确定轴承的缺陷所在的位置,确定所述缺陷的大小;根据所述缺陷所在的位置和设定条件,确定所述轴承的失效模式,以及在所述失效模式下所述缺陷的扩展速率和失效值,所述失效值为所述轴承失效时所述缺陷能够达到的最大值;基于所述缺陷的大小、所述扩展速率以及所述失效值,获得所述轴承剩余寿命。本方案能够判断轴承的剩余使用寿命,以便维护人员提前安排维护计划和应对措施。
一种用以借由组合离子化真空计与至少一其它的真空感测器来测量气体压力的方法及装置。耦接于真空计的非依电性记忆体含有依据工厂校准而定的各个个别感测器唯一的校准参数。该非依电性记忆体可含有用于一热敏真空感测器的校准参数,以补偿由该离子化真空计所产生的温度梯度。该等校准参数是当离子化真空计开启及关闭时所判断的校准数据的函数。该非依电性记忆体可储存该真空计的一视窗的测试数据,该非依电性记忆体更新于预定的时间间隔及回应于一诸如错误事件的事件,以协助调查真空计故障或失效的原因。
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本发明提供一种阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构,其在一待测电子元件基板底部的第一接点群中,以螺旋状方式或有规律的连续式回路设计使每二毗邻的接点形成短路;并在一相对应的测试电路板基板表面的第二接点群中,以反螺旋状方式或有规律的反向连续式回路设计将其分组使每二毗邻的接点形成短路,且对应于待测电子元件第一接点群的短路则为开路;再利用复数导电接点导通第一接点群及第二接点群,进而依该测试电路板的分组路线而将偶数个导电接点串联成监测回路;连续测试每一该监测回路的电阻变化及其发生的异常事件,以据此判读得知某一特定监测回路的导电接点失效,达到导电接点多点式且为连续即时性的可靠性监控测试的功效。
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本发明涉及位置测量装置和用于运行位置测量装置的方法。所述位置测量装置具有:分度载体,在该分度载体上布置有测量分度,至少一个位置传感器,利用其通过扫描测量分度可生成与位置有关的测量信号,处理单元,利用所述处理单元可将与位置有关的测量信号处理成位置信号,和用于经由至少一个数据传输通道与随动电子装置通信的接口单元,其中所述位置测量装置包括监控单元,给所述监控单元可输送位置测量装置的至少一个运行条件,并且所述监控单元包括评估单元,所述评估单元根据至少一个运行条件来测定至少一个要监控的部件的部件失效率,并且由此测定位置测量装置的当前运行失效率。本发明进一步涉及一种用于运行这样的位置测量装置的方法。
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本发明公开一种材料磨损寿命的预测方法、设备和材料磨损测试装置。该方法包括设定测试条件的参数;获取材料在测试条件中的摩擦性能的数据和材料的失效临界硬度;对数据进行处理,得到材料的摩擦性能的变化关系;根据变化关系和失效临界硬度,计算材料的磨损寿命。该装置包括:基盘;磨片,磨片用于与样品进行摩擦,磨片被固定在基盘上;温度控制单元,用于控制测试环境的温度;压力控制单元,用于对样品施加恒定压力;平衡臂,平衡臂的一端与样品同轴线相连,通过调整平衡臂,改变样品在磨片上的摩擦角度;驱动单元,与基盘相连,用于控制基盘的转动速度和转动方向。本发明对材料磨损寿命进行准确预测,提高试验效率和试验经济性。
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一种磁共振检查系统包括冷却客户端(113、144、115),借助于系统冷却回路将热从所述冷却客户端带走。热源(109)与系统冷却回路热接触。主泵(107)驱动冷却剂在系统冷却回路中的流动。冷却剂被保持处于运动,并且可以通过热源来加热。因此,在不需要抗凝固剂的情况下避免了冷却剂的凝固。即使主泵失效,更低性能要求的备用泵(121)也可以维持冷却剂的流动。可以使用低粘度冷却剂,例如水。所述系统还包括切断阀(127)以及与所述切断阀并行的短回路(141)。
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本发明所属的测试装置具备:图样产生器,其产生一种供给至多个被测试存储器中的位址信号和数据信号以及产生一种期待值信号;多个逻辑比较器,其在多个被测试存储器所输出的输出信号和该期待值信号不一致时产生一种失效数据;多个失效存储器,其储存着多个逻辑比较器所产生的失效数据;多个存储器控制器,其依据多个失效存储器所储存的失效数据以产生被测试存储器的不良位址显示用的不良位址资讯;多个通用缓冲存储器,其储存着多个存储器控制器所产生的不良位址资讯;以及多个不良资讯写入部,其将不良资讯同时写入至多个被测试装置的多个通用缓冲存储器中所储存的不良位址资讯所示的不良位址中。
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本发明涉及电池管理与诊断领域。本发明提供一种用于电池模组的膨胀测试的方法,所述电池模组包括多个电芯,所述方法包括以下步骤:S1:在多个测试周期上对电池模组执行循环充放电操作期间,获取电池模组的与膨胀特性相关的参数,其中,在至少一个测试周期中的充放电阶段和恢复阶段分别获取电池模组的所述参数;以及,S2:对在多个测试周期上累积获取的所述参数执行趋势分析,以得出关于电池模组的健康状态的结论。本发明还涉及一种用于电池模组的膨胀测试的设备。本发明对电池模组的状态与结构劣化提出新的分析维度,能够从膨胀水平分析失效原因,为后续的动力电池研发奠定了可靠基础。
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要求保护的方法和系统制定了用于诸如阀组件的聚合体组件等过程控制装置的组件的加速老化测试协议,其中,加速老化测试协议被特别制定来响应在过程工厂安装中的过程控制装置的操作期间使用的预期操作条件。来自制定的加速老化测试的测试数据被分析来确定组件的预期寿命配置文件,该配置文件对在这些预期操作条件下失效的组件配置文件。对于聚合体特征的特定配置文件包括氧化失效配置文件和其它疲劳条件。
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