本发明提供了一种半导体集成电路及其测试方法。编程电路在第一编程单元被编程时激活通过信号。当内部电路的测试通过时,第一编程单元被编程。通过外部控制,模式设置电路将运行模式转换为正常运行模式或者测试模式。当通过信号在正常运行模式期间被失活时,状态机允许内部电路的部分电路执行不同于正常操作的异常操作。通过在正常运行模式期间识别异常操作,可以容易地识别出半导体集成电路是坏的。由于无需转换到测试模式就可以识别失效,因此例如购买半导体集成电路的用户也可以容易地识别出失效。
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来源：北方有色网
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