便携式TOFD超声波检测仪简介：
TOFD及PE多通道扫查一次性全覆盖200mm厚度焊缝
1、满足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME、ENV583 、CEN 14751、NEN1822、DNV、API、RBIM等标准及新容规、锅规的指标要求;
2、具有JB/T 4730推荐使用的TOFD缺陷测长功能——合成孔径聚焦(SAFT)，还原缺陷特征;
3、具有长续航时间、高检测效率、人性化的操作界面，现场使用性更好，可实现现场远程控制及自动扫查：
*提供满足企业特殊要求的软件定制服务。
*提供满足现场特殊检测要求的手动、 自动扫查器及硬件配置定制服务。
4、特种行业TOFDⅡ级人员资质培训考核样板机。
功能特点：
A 特优点
a.全中文菜单式友好操作界面，方便快捷;
b. 超高亮彩色液晶显示，可根据不同现场环境改变;
c. 超声衍射波成像检测，解决传统放射检测的扫查厚度及检测效率局限性，节约探伤成本;
d. 集A扫、B扫成像、C扫成像、P扫成像、TOFD成像、导波成像等多能一体;
e. 独有合成孔径聚焦技术，领潮行业，有效提高缺陷测量精度;
f. 波形相位稳定，信噪比高，缺陷识别更清晰;
g. 内置现场检测工艺模型，自动生成检测工艺;
h. 便携扫查器及自动扫查装置代替手工扫查，满足各种工件检测要求;
i. 多通道TOFD检测实现大厚壁焊缝一次性全面覆盖;
j. 超大机内存储空间及便捷的文件网络传输功能;
l. 集成数据电缆，装卸方便，信号传输损耗小;
m. 高性能安保锂电，模块插接，一机两电，超长续航。
B探伤功能
扫查方式：对焊缝进行全面非平行、平行扫查;
缺陷定位：分析软件直接读出缺陷位置、深度、自身高度;
缺陷显示：直观显示缺陷在工件中的位置及上下端点;
A型扫描：射频显示提高仪器对材料中缺陷模式的评价能力;
B扫成像：实时显示缺陷截面形状;
C扫成像：实时显示缺陷俯视成像;
D扫成像：实时显示缺陷的灰度扫查图，直观显示缺陷并对缺陷质量进行评价;
P扫成像：实时空气超声定位，对缺陷进行三维描述，提高缺陷判性准确率;
导波成像：对薄壁工件进行一维扫查，获取二维成像。
C 扫描范围
多路TOFD检测和PE检测全面覆盖200mm厚度以内的分区扫查;可扩展至400mm厚度。
D 数据分析
直通波去除：近表面缺陷专用处理工具，提高近表缺陷分析精度;
横竖调整：满足不同现场操作习惯;
SAFT：国际公认有效提高缺陷测量精度的功能。
E数据存储与输出
a.预先调校好各类探头与仪器的组合参数，方便存储、调出、离线分析、复验、打印、通讯传输。
b.超大内存容量，单次扫查最多可记录40米。
c.扫查图像、文件可根据使用要求自动保存、自动编名。
d.支持双USB拷贝、网络传输、外接显示器等。
仪器参数：
频带宽度：0.3-22MHz
脉冲电压：-400V
脉冲前沿：<10ns
重复频率：1000Hz(每通道)
平均次数：8
采样深度：512，1024
匹配阻抗：25，500
检波方式：数字检波
增益范围：0dB-110dB波形显示方式：射频波，检波(全检、负或正半检波)，信号频 谱(FFT)
扫描延时：0~500us可控0.008us精度
扫查定位：时基(内置实时时钟-0.02秒精度)/真实位置(增量编码器-0.5mm精度)
成像模式：根据选择的操作模式和相应的仪器配置及设置显示连续A扫、B扫成像、C扫成像、TOFD成像、P扫成像、导波成像
直线扫查长度：0-40米
记录方式：完全原始数据记录
离线分析：恢复和回放扫查时记录的A扫波形
缺陷尺寸测量和轮廓描述
厚度/幅度数据统计分析
记录转换到ASCⅡ/MS Word/MS Excel
数据报告：直接打印A扫、频谱图、B扫图象、C扫图象、TOFD图象、P扫图象、导波检
工作环境：
工作温度：-10 ~ 50℃
存储温度：-20℃ ~ 60℃
相对湿度：不超过85%
工作电压：DC24V
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