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工作原理
IE200M采用倒置式光学设计，物镜位于载物台下方，光源通过落射式柯拉照明系统从顶部投射至样品表面。光线经样品反射后，由长工作距平场消色差物镜（5X-100X）收集并形成倒立实像，再经目镜（10X-20X）二次放大，最终呈现高对比度、无畸变的金相图像。该设计避免了传统正置显微镜因样品重力导致的形变干扰，尤其适用于大尺寸、厚重金属试样的非破坏性观察。
应用范围
产品广泛应用于钢铁冶金行业的晶粒度评级、夹杂物分析；汽车制造领域的零部件热处理缺陷检测；电子行业的半导体硅晶片表面质量评估；以及地质矿物学的微观结构研究。其兼容明场、偏光等多种观察模式，可适配金相评级软件与图像分析系统，实现晶界测量、相比例计算等量化分析。
产品技术参数
光学系统：有限远色差校正系统
物镜配置：5X（WD15.5mm）、10X（WD8.7mm）、20X（WD8.8mm）、50X（WD5.1mm）、100X（WD2.0mm）
目镜：高眼点平场目镜PL10X/18mm（可选配WF15X/13mm、WF20X/10mm）
载物台：三层机械移动平台（180mm×155mm），X/Y行程75mm×40mm
调焦机构：低手位粗微调同轴设计，粗调每转行程38mm，微调精度0.002mm
照明系统：6V30W卤素灯/5W LED双模式，亮度连续可调，带孔径光阑与视场光阑
产品特点
高稳定性结构：全金属机身与花岗岩基座设计，有效抑制振动，确保长时间测量重复性。
人性化操作：右手位低手位调焦机构与载物台控制，符合人体工学，提升操作效率。
模块化扩展：支持偏光组件、摄像接口（0.5X/1X C型接口）及金相分析软件升级，可拓展为智能检测系统。
节能环保：LED照明模式功耗降低80%，寿命达5万小时，适配全球电压（100V-240V）。
IE200M以精准成像、便捷操作与高性价比，成为金属材料检测领域的优选方案。
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