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自动光学膜厚测量仪

自动光学膜厚测量仪

470
规格/型号:Filmetrics F54-XY-200
品牌:优尼康
应用领域:检测设备
产地:广东 - 东莞
厂家/供应商:优尼康科技有限公司
咨询电话::400-616-7676转1554(请说明信息源自“中冶有色网”)
更新时间:2025-07-13
级别:待认证

自动光学膜厚测量仪说明介绍

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪


核心参数

波长范围:190nm-1700nm

测量范围:20nm-40um

测量精度:0.02nm

产品介绍

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统,可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪产品介绍:

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统,可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪产品特点优势:

自动化薄膜厚度绘图系统,快速定位、实时获得结果;

可测样品膜层:基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量;

测绘结果可用2D或3D呈现,方便用户从不同的角度检视;

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪测量原理:

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射,由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉,从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(越多的震荡代表越大的厚度),同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪
         
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