X射线在线测厚仪
品牌型号： 赛默斐视
测量范围:厚度0-5000um
扫描精度:≤±0.2%(FS)
最大允许环境条件:最高温度60℃，相对湿度0-95%
工作原理
系统采用“O”型框架横跨整个产线，通过运动模块在产线正常时左右移动，来实现对产品整个幅面的厚度在线测量。系统采用穿透测衰减的检测方式，光子由X射线管从材料的一侧穿透到材料的另一侧，同时在通过材料下方的的接收器进行接收，当接收器接收到透射过来的X射线同时在内部形成脉冲量，从而精确且稳定的反映出被测材料的厚度。
被测材料的厚度与X射线透射到接收端内所形成的信号成线性关系。SIMV-DMF传感器可以有效的消除通常来自被测材料的位置波动，温度变化而引起的误差。
技术参数
参数名称：具体数值
测量方式：X-SimVision穿透式传感器（测衰减）
线束发生器：X-SimVision光管
测量范围：厚度0-5000um
探头与被测物之间的距离：15-50mm（标准为20mm）
通讯接口：TCP/IP（RJ45或工业以太网）
定点分辨率：0.1-0.15um
扫描精度：≤±0.2%（FS）
响应时间：1-10ms（可调整）
最大允许环境条件：最高温度60℃，相对湿度0-95%
优势
1智能传感器配以超快微处理器，对数据进行预处理
2测量间隙可调整，适合各种客户的需求
3采用极其高效的X射线探测器，测量精度高
4坚固的放射器外壳，严格遵守安全防护规则
5断电没有同位素放射性
6专利测量技术，对被测量物的距离不敏感
7鉴于微波谐振分析，测量高精度和高稳定性
8几乎无需标定，自动精度校准
9非接触式测量，不影响被测材料质量和生产工艺
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