全部
▼
294
工作原理
SX F1.5采用双激光三角反射原理，通过发射两束波长650nm的红色激光，分别聚焦于基材表面与涂层上表面。设备内置高速信号处理器实时采集反射光斑位置，结合基材数据库自动匹配折射率参数，消除不同材质对测量结果的干扰。测量时，传感器沿垂直方向扫描，系统自动计算两光斑间距并修正环境振动、表面曲率等因素影响，最终输出厚度值至0.1μm精度，全程无需人工校准基材类型。
应用范围
该设备覆盖多行业关键检测场景：电子制造领域可检测PCB板绿油厚度、柔性显示屏PI膜层均匀性；汽车行业适用于车身电泳涂层、光伏玻璃减反射膜厚度监控；新能源领域支持锂电池隔膜、燃料电池质子交换膜的在线测量；包装材料可验证镀铝膜、复合胶层厚度是否达标。其非接触式测量特性尤其适合高温、易变形或软质材料的动态检测需求。
技术参数
测量范围：0-1.5mm（可扩展至5mm）
分辨率：0.01μm（静态），0.1μm（动态）
重复精度：±0.05μm
扫描速度：最高5000点/秒
基材识别库：内置200+种常见材料折射率参数，支持自定义添加
接口配置：RS-485/Ethernet/USB，兼容MES系统数据直传
产品特点
智能基材自适应：通过光谱分析与数据库比对，自动识别基材并调用对应测量算法，消除人工选型误差；
抗干扰能力强：采用动态滤波技术，有效抑制工件抖动、环境光干扰，确保工业现场稳定测量；
多模式测量：支持单点静态测量、连续动态扫描、截面轮廓测绘三种模式，适配不同检测场景；
紧凑便携设计：主机重量仅1.2kg，集成7寸触摸屏与无线传输模块，可手持或搭配机械臂实现自动化产线集成。
咨询底价
