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WAW-300B型微机控制电液伺服液压万能试验机是采用了液压动力源驱动，电液伺服控制技术，计算机数据采集处理，可实现闭环控制及自动检测的高精度材料试验设备，其由试验主机、油源（液压动力源）、测控系统、试验器具四部分组成，最大试验力300kN，试验机准确度等级为1级，根据用户需要，也可扩大至0.5级（请于定货时注明）。
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Candela 8420是一种表面缺陷检测系统，它使用多通道检测和基于规则的缺陷分类，对不透明、半透明和透明晶圆(如砷化镓、磷化铟、钽酸锂、铌酸锂、玻璃、蓝宝石和其他化合物半导体材料)提供微粒和划痕检测。 8420表面缺陷检测系统采用了专有的OSA（光学表面分析仪）架构，可以同时测量散射强度、形貌变化、表面反射率和相位变化，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。只需几分钟即可完成全晶圆检测，并生成高分辨率图像和自动化检测报告，同时附带缺陷分类和晶圆图。
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iMicro纳米压痕仪可轻松测量硬质涂层、薄膜和小尺寸材料等。其准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度测试、划痕和纳米级万能试验等多种纳米力学测试。作动器易于更换，能够提供大范围的动态载荷和位移，对于从软质聚合物到硬质金属/陶瓷等材料，均可以进行准确而可重复的测试。模块化的功能选项可以适配各种应用：材料力学特性图谱、频率相关特性测试、划痕和磨损测试以及高温测试。iMicro提供一整套的扩展功能选项，包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D/4D材料力学性能成像、Gemini 2D作动器用于摩擦学和其它双轴力学测量。
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Zeta™-20是一个高度集成的光学轮廓显微镜，可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™ 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境，具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。Zeta-20HR 提供专业的太阳能电池量测解决方案。
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100N~30kN（3吨）电子万能试验机CMT4000，适用于各种金属与非金属材料试样的拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离、撕裂等试验，以及一些产品的特殊试验。可根据GB、ISO、DIN、ASTM、JIS等国际标准进行力学的测试与分析。下空间操作，也可改上空间或双空间操作。
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专利产品，与清华大学、中科院力学所合作开发，针对复杂多样的试验需求设计，结合力学、温度、材料、软件等多功能学科的一款多功能力学模拟系统。
50kN~100kN（5吨~10吨）电子万能试验机-CMT5504、CMT5105-单空间机型，主要用于金属、非金属材料的拉伸、压缩、弯曲等力学性能测试和分析研究。可自动求取ReH、ReL、Rp0.2、Fm、Rt0.5 、Rt0.6、Rt0.65、Rt0.7、Rm、E等试验参数，并可根据GB、ISO、DIN、ASTM、JIS等国际标准进行试验和提供数据。
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三缸弯曲试验机主要用于满足GB/T232-2010《连续弯曲试验机》、GB/T14452《金属弯曲力学性能试验方法》、GB1499.2《钢筋混凝土用钢第2部分：热轧带筋钢筋》等国家标准的试验要求。
200kN~300kN（20吨~30吨）电子万能试验机-CMT5205、CMT5305机型，主要用于金属、非金属材料的拉伸、压缩、弯曲等力学性能测试和分析研究。可自动求取ReH、ReL、Rp0.2、Fm、Rt0.5 、Rt0.6、Rt0.65、Rt0.7、Rm、E等试验参数，并可根据GB、ISO、DIN、ASTM、JIS等国际标准进行试验和提供数据。该机型可采用双空间或单空间设计。
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高功率半导体激光温控器是一款功能强大的温度控制设备，具备便捷的高对比度VFD显示屏，可同时显示电流、电压、温度等信息，配备USB或RS232标准计算机接口，支持远程操作。它提供多种功率选择（24W至960W），满足不同实验需求，且价格合理。其内置AutoTune自动PID计算功能，可快速优化温控参数，同时支持手动调整，确保精准控制。此外，该设备支持RTD、LM335和AD590等多种温度传感器接入，适用范围广泛，是高功率半导体激光器温控的理想选择。
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Toptica数控可调半导体激光器DLC pro是一款高性能的可调谐二极管激光器，具有极高的稳定性和低频率漂移。它配备数字控制模块，运行时线宽可达10 kHz，与外腔参照锁模时线宽可达1 Hz。DL pro采用革命性的机械设计，提供高输出功率和优化的无跳模调谐，支持光纤耦合、光束整形等多种选项。DL pro FL变体配备腔内EOM，可实现快速锁定和高稳定性，适用于下一代量子技术。DLC pro控制器具有直观的用户界面，可购买软件许可证以启用频率锁定功能。
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SmartComb是一款小型全自动光学频率梳系统，采用紧凑的19英寸3U封装，具备全自动开箱即用的设计，适用于光学实验室应用。它基于光纤的飞秒频率梳技术，获得专利，配备触控面板和LAN接口，支持远程控制。系统提供1.5 µm光输出，可测量630-2000 nm波长范围内的光学频率，精度达14位，并配备内部10 MHz OCXO参考源，支持射频或光学参考输入以提高测量精度。其模块化设计可定制输出端口、光谱范围和脉冲长度，基于经过验证的figure 9®激光器技术，具有高可靠性和适应性。
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2026年01月23日 ~ 24日 
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