一种进行存储器件的缺陷泄漏筛选测试的方法包括步骤:通过在测试的读取操作期间改变存储器件的p阱电压表征由漏电流、结漏电流、或亚阈值漏电流造成的特定单个位失效;用测试码初始程序装入(IPL)改变p阱电压。此外,附加的逻辑提供在存储IC上以译码IPL逻辑信号;为了进行p阱改变测试,存储器件提供有:IPL译码逻辑;参考电压发生器;IPL参考电压多路转换器;p阱电压反馈电路;以及差分放大器电路。
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来源：北方有色网
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